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投稿时间：2022-01-23 修订日期：2022-05-30
投稿时间：2022-01-23 修订日期：2022-05-30
中文摘要: 针对含锗为0.318%的含锗浸出渣，借助电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)、X射线衍射（XRD）分析、扫描电子显微镜能谱分析（SEM-EDS）等手段，确定浸出渣中锗的赋存状态，结果表明，含锗浸出渣物料的锗主要赋存于二氧化硅颗粒中；选择高温硫化挥发工艺实现锗的富集，重点研究了挥发过程中气氛环境、添加剂、挥发温度和挥发时间等对锗挥发率的影响。结果表明，采用氩气作为保护气氛，在挥发温度为900 ℃、挥发时间3 h的条件下，浸出渣中锗的挥发率达99.73%，得到挥发富集物含锗2.255%，实现了锗的高效富集，有利于提高锗的综合回收率。
Abstract:With the help of ICP-OES, XRD and SEM-EDS, the existing state of germanium in the leached residue containing 0.318% germanium was determined. The results showed that germanium in the leached residue mainly existed in silica particles; The effect of atmosphere, additives, volatilization temperature and time on the volatilization rate of germanium was studied. The results showed that the volatilization rate of germanium in the leaching residue reached 99.73% under the conditions of 900 ℃ volatilization temperature and 3 h volatilization time with argon as the protective atmosphere. The volatilized enrichment contained 2.255% germanium. The high-efficiency enrichment of germanium was realized and the comprehensive recovery of germanium was improved.
文章编号：20220123001 中图分类号： 文献标志码：
基金项目:国家重点研发计划项目(2018YFC1900404)
| 作者 | 单位 | |
| 刘野平 | 深圳市中金岭南有色金属股份有限公司 | 517360520@qq.com |
| 胡东风 | 深圳市中金岭南有色金属股份有限公司 | chenkangkang@bgrimm.com |
| 伏志宏* | 深圳市中金岭南有色金属股份有限公司 | 46794667@qq.com |
引用文本：
刘野平,胡东风,伏志宏.硫化挥发法回收含锗浸出渣中的锗[J].矿冶,2022,31(4):.
刘野平,胡东风,伏志宏.硫化挥发法回收含锗浸出渣中的锗[J].矿冶,2022,31(4):.
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